ISO 25178 désigne un ensemble de normes internationales définissant l’analyse des états de surface surfaciques (appelés aussi états de surface 3D).
Cette norme en plusieurs parties a été rédigée par le groupe de travail WG16 au sein du comité technique TC213 de l'ISO (Organisation internationale des standards).
Il s’agit de la première norme au monde prenant en compte la spécification et la mesure des états de surface tridimensionnels. La norme définit notamment les paramètres surfaciques d’état de surface et les opérateurs de spécification associés. Elle décrit également les technologies de mesure applicables, les méthodes pour les étalonner ainsi que les étalons matérialisés ou les étalons logiciels nécessaires.
La grande nouveauté de cette norme est la prise en compte des moyens de mesure sans contact, déjà largement utilisés dans l’industrie mais qui ne disposaient pas jusque-là du support normatif nécessaire dans le cadre d’une démarche qualité ISO 9000. Cette norme officialise donc désormais les moyens métrologiques surfaciques en plus des moyens profilométriques normalisés depuis trente ans. Il en est de même avec les technologies de mesure qui ne sont plus limitées à la mesure à contact (stylet à pointe diamant), mais peuvent être optiques, telles que le capteur point confocal chromatique ou le microscope interférométrique.