Back Generació automàtica de patrons de prova Catalan Automatic test pattern generation English 자동 시험 패턴 생성 Korean ATPG Swedish ATPG Chinese 自動測試圖樣生成 ZH-YUE
La generazione automatica di vettori di collaudo (ATPG) è un metodo e una tecnologia, utilizzata per trovare una sequenza di collaudo che, quando applicata ad un circuito digitale, dà la possibilità ai tester di distinguere fra il comportamento del circuito corretto e non corretto determinato da anomalie funzionali. Le procedure generate sono usate per collaudare i dispositivi a semiconduttore dopo la produzione, ed in taluni casi per assistere alla determinazione delle cause di malfunzionamento. L'efficacia dell'ATPG è misurata dall'ammontare dei difetti modellati, o modelli di guasto, che sono rivelati ed il numero delle procedure generate. Quest'ammontare indica genericamente la qualità del controllo (più elevata con maggiore rivelazione di guasti) e il tempo di esecuzione dei collaudi (più elevato con maggiori procedure). L'efficienza dell'ATPG è un altro fattore importante. È influenzata dal modello di guasto in esame, dal tipo del circuito in collaudo (con predisposizioni per il collaudo automatico, sequenziale sincrono, o sequenziale asincrono), dal grado di astrazione utilizzato per rappresentare il circuito in esame (porte, registri a transistor, interruttori), e la copertura di qualità di collaudo richiesta.