Back Atoomkragmikroskopie Afrikaans Rasterkraftmikroskop ALS مجهر القوة الذرية Arabic Атомно-силов микроскоп Bulgarian Mikroskopija atomskih sila BS Microscopi de forces atòmiques Catalan Mikroskopie atomárních sil Czech Atomar kraftmikroskopi Danish Rasterkraftmikroskop German Μικροσκοπία ατομικής δύναμης Greek
| Atoomkrachtmicroscopie | ||||
|---|---|---|---|---|
| atomic force microscopy | ||||
| ||||
Schematische weergave van de atoomkrachtmicroscoop
| ||||
| Kenmerken | ||||
| acroniem | AFM | |||
| type | microscopie | |||
| meetinstrument | atoomkrachtmicroscoop | |||
| gerelateerd | CM-AFM, AM-AFM, FM-AFM | |||
| ||||
Atoomkrachtmicroscopie (Engels: atomic force microscopy, meestal kortweg AFM genoemd) is een scanning probe microscopy-techniek om net als bij scanning tunneling microscopy met een sonde het oppervlak van een object op atomaire schaal te kunnen verkennen, maar dan zonder de beperking dat het object elektrisch geleidend moet zijn. In plaats van een tunnelstroom die constant wordt gehouden meet de AFM het doorbuigen van een bladveer (cantilever) en corrigeert die zodat de naald een constante kracht van het oppervlak van het object ondervindt.
De atoomkrachtmicroscoop kan niet alleen worden gebruikt om het oppervlak te bestuderen, maar ook om het te beïnvloeden: men kan moleculen op het oppervlak van het object manipuleren door gebruik te maken van de naald van de microscoop.