Back Atoomkragmikroskopie Afrikaans Rasterkraftmikroskop ALS مجهر القوة الذرية Arabic Атомно-силов микроскоп Bulgarian Mikroskopija atomskih sila BS Microscopi de forces atòmiques Catalan Mikroskopie atomárních sil Czech Atomar kraftmikroskopi Danish Rasterkraftmikroskop German Μικροσκοπία ατομικής δύναμης Greek
Mikroskop Atomskih Sila (MAS) (engl. Atomic Force Microscope, AFM) ili skenirajući mikroskop sila (engl. Scanning Force Microscope, SFM) je uređaj koji pripada porodici mikroskopa sa skenirajućom sondom (Scanning Probe Microscope - SPM) čiji se rad zasniva na merenju međumolekularnih sila koje deluju između atoma merne sonde i atoma ispitivanog uzorka. Merenje se sprovodi od tačke do tačke, nakon čega se podaci svih ispitanih tačaka prikupljaju u snimak ispitivane površine. Tehnologija koja je prethodila mikroskopiji atomskih sila je Skenirajuća Tunelska Mikroskopija (engl. Scanning Tunneling Microscopy, STM) čiji se rad zasniva na kvantno-mehaničkom efektu tunelovanja elektrona kroz dielektrik.
Ovom, danas izuzetno uspešnom tehnologijom vizuelizacije, postignuta je rezolucija snimanja od nekoliko pikometara čime je omogućeno snimanje uzoraka u atomskoj rezoluciji. Današnja optička i elektronska mikroskopija su na pragu dostizanja ovako visoke rezolucije. U budućnosti se očekuje dalji razvoj obeju tehnologija tako da će biti moguće rutinsko snimanje u atomskoj rezoluciji.