JTAG

A JTAG (az azt leíró Joint Test Action Groupról elnevezve) technikai szabvány nyomtatott áramkörök gyártás utáni tesztelésére és tervezésük megerősítésére.

A JTAG chipen lévő műszerezési szabványokat fektet le az elektronikus tervezésautomatizáció (EDA) terén a logikai szimulációt kiegészítve.^[1] Egy dedikált hibakereső port használatát írja le soros kommunikációs felülethez alacsony költségű hozzáféréshez a rendszercímhez és az adatbuszokhoz közvetlen külső hozzáférés nélkül. A felület chipen lévő teszthozzáférési porthoz csatlakozik, mely egy állapotokkal rendelkező protokollt ad meg a tesztregiszterek hozzáféréséhez, bizonyos eszközök logikai szintjeinek és képességeinek megadásához.

A Joint Test Action Group 1985-ben jött létre tervezések ellenőrzésére és nyomtatott áramkörök gyártás utáni ellenőrzésére. 1990-ben az Institute of Electrical and Electronics Engineers az eredményeket az IEEE Standard 1149.1-1990-ben (címe Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture) írta le.

A JTAG-szabványokat számos félvezetőgyártó bővítette gyártóspecifikus funkciókkal bővítette.^[2]

1. ↑ Neal Stollon. On-Chip Instrumentation. Springer (2011) 
2. ↑ Randy Johnson, Steward Christie (Intel Corporation, 2009), JTAG 101—IEEE 1149.x and Software Debug