JTAG(ジェイタグ、英語: Joint Test Action Group)は、集積回路や基板の検査、デバッグなどに使える、バウンダリスキャンテスト(英語版)やテストアクセスポートの標準 IEEE 1149.1 の通称である。本来はこの検査方式を定めた業界団体(Joint European Test Action Group)の名称の略。当初JETAGであったがEuropeanが抜けJTAGとなった。
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